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      表盤式鏡片厚度測量儀日本TECLCOK得樂

      表盤式鏡片厚度測量儀日本TECLCOK得樂

      更新時間:2025-07-10

      產(chǎn)品型號:SM-112LW

      廠商性質(zhì):經(jīng)銷商

      生產(chǎn)地址:日本

      產(chǎn)品報價:

      產(chǎn)品特點(diǎn):SM-112LW 表盤式鏡片厚度測量儀日本TECLCOK得樂
      型號:SM-112LW
      測量范圍:0?10mm
      最小刻度:0.01mm
      測頭:上、下均為3.2mm球形測頭
      主要用于測量鏡片凹凸處的最大厚度

      詳細(xì)資料

      SM-112LW 表盤式鏡片厚度測量儀日本TECLCOK得樂

      型號:SM-112LW

      測量范圍:0?10mm

      最小刻度:0.01mm

      測頭:上、下均為3.2mm球形測頭

      主要用于測量鏡片凹凸處的最大厚度



      表盤式厚度表 測頭:


      型號

      小刻度
      mm

      測量范圍
      mm

      精度
      um

      平面度
      um

      表盤刻度

      測量力

      上測頭

      下測頭

      SM-112

      0.01

      10

      ±15

      5

      0-50-100

      2.5N以下

      φ 10 Flat

      φ 10 Flat

      SM-112LS

      0.01

      10

      ±15

      0-50-100

      2.5N以下

      φ 3.2 Ball

      φ 10 Flat

      SM-112LW

      0.01

      10

      ±15

      0-50-100

      2.5N以下

      φ 3.2 Ball

      φ 3.2 Ball

      SM-112-3A

      0.01

      10

      ±15

      5

      0-50-100

      2.5N以下

      φ 5 Flat

      φ 5 Flat

      SM-112-80g

      0.01

      10

      ±15

      5

      0-50-100

      停止點(diǎn)測量力0.8N±0.05

      φ 10 Flat

      φ 10 Flat

      SM-112P

      0.01

      10

      ±15

      5

      0-0.5-1

      2.5N以下

      φ 10 Flat

      φ 10 Flat

      SM-112FE

      0.01

      10

      ±15

      5

      0-50-100

      2.5N以下

      φ 10 Flat

      φ 10 Flat

      SM-112AT

      0.01

      10

      ±15

      8

      0-50-100

      0.8N以下

      φ 10 Flat

      φ 10 Flat

      SM-112D

      0.01

      10

      ±15

      5

      0-50-100

      2.5N以下

      φ 10 Flat

      φ 10 Flat

      表盤式厚度表  型號:

      SM-112、SM-112LS、SM-112LW、SM-112-3A、SM-112-80g、SM-112P、SM-112FE、SM-112AT、SM-112D


      表盤式厚度表  別名:

      表盤式厚度計(jì)、手握式厚度表、厚薄表、測厚計(jì)


      表盤式厚度表  產(chǎn)品說明:

      小刻度有0.01和0.001兩種。

      測量厚度可達(dá)50mm

      部分量表采用陶瓷測頭,與工作接觸面為陶瓷,可延長使用壽命。另外,還有FE(材質(zhì)為加硬SK4)和AT(材質(zhì)為特殊鍍層)可供選擇。

      根據(jù)測頭的形狀不同,可分為標(biāo)準(zhǔn)型和其它型,

      標(biāo)準(zhǔn)型的測量力不超過2.5N,同時也可選用低測量力0.4N

      SM-112LW 金屬圓測頭,測頭尺寸¢3.2mm,用于測量金屬片及不規(guī)則產(chǎn)品

      表盤式厚度表  用途:

      應(yīng)用廣泛,可測量紙張、頭發(fā)、橡膠板、金屬管、珍珠等的厚度。

      SM-112LW 表盤式鏡片厚度測量儀日本TECLCOK得樂

      表盤式厚度表  實(shí)物照片:




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